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CTP10 - 無源光器件測試平臺

CTP10 - 無源光器件測試平臺

簡要描述:高效地測試全天候運行的無源光器件。以非常高的動態(tài)范圍、速度與分辨率測量插損
(IL)、回?fù)p(RL)或偏振相關(guān)損耗(PDL)。

產(chǎn)品型號: CTP10-EXFO

所屬分類:光無源器件

更新時間:2024-05-06

詳細(xì)說明:

迅速對IL、RL或PDL進行波長掃描測量 采用*電子技術(shù),只需一次掃描便可以實現(xiàn)整個 動態(tài)范圍內(nèi)的IL鑒定,是測試頻譜對比度高的器件的 理想工具 可安裝多達10個熱插拔模塊,以提供50個光輸出端 口,甚至通過菊花鏈連接提供100+個光輸出端口來測 試器件 配備強大、直觀的圖形用戶界面(GUI),便于配置測 試和分析測量結(jié)果 支持全波段IL、RL和PDL測量,覆蓋從1240 nm到1680 nm 的波長 提供激光器共享功能,在多8個測試臺間共享一個或 多個激光器

CTP10是一種模塊化測量平臺,可高效地測試全天候運行的無源器件。該平臺可直接控制一臺或多臺T100S-HP激光器,在幾秒 內(nèi)實現(xiàn)高分辨率頻譜鑒定。一臺CTP10可為IL、RL或PDL測量提供波長掃描、數(shù)據(jù)收集與處理、以及曲線顯示與分析功能,從 而成為一款非常誘人、易于使用的無源器件測試解決方案。它能夠以高達80 dB的動態(tài)范圍、非常高的速度與分辨率,通過 一次掃描便完成插損測量。該平臺可連接多達50個檢測器,成為測試DWDM網(wǎng)中所用大端口數(shù)器件以及光子集成電路(PIC) 的理想儀表。 它運行操作系統(tǒng)幾乎消除了由數(shù)據(jù)傳輸而導(dǎo)致的任何停機時間。它還配備一個 大容量內(nèi)置硬盤,用于直接存儲數(shù)據(jù)和通過兼容SCPI的命令進行全遠(yuǎn)程控制。



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